State-of-the-art technological metrological equipment and software, 2021-02-10

State-of-the-art technological metrological equipment and software Konstantin Lovetskiy, Ph.D., Associate prof. department Applied Informatics and Probability Theory of RUDN University The current tendency towards miniaturization has shown that the substance can have completely new properties if you take very small particles of this substance. Particles measuring 1 to 100 nanometers are commonly referred to as “nanoparticles.“ For example, it turned out that the nanoparticles of some materials have very good catalytic and adsorption properties. Other materials show amazing optical properties, such as ultra-thin films of organic materials used to produce solar panels. The nanoscale object research equipment is being developed at a very rapid pace, as well as mathematical modeling and design of new devices based on mathematical and software models. The report is dedicated to reviewing state-of-the-art technological metrological equipment and software created by leading firms such as Scientific Computing International (SCI), J.A. Woollam, Filmetrics, etc. Современное технологическое метрологическое оборудование и программное обеспечение Константин Ловецкий, кфмн, доц. каф. прикладной информатики и теории вероятностей РУДН Современная тенденция к миниатюризации показала, что вещество может иметь совершенно новые свойства, если брать очень маленькие частицы этого вещества. Частицы размерами от 1 до 100 нанометров обычно называют «наночастицами». Так, например, оказалось, что наночастицы некоторых материалов имеют очень хорошие каталитические и адсорбционные свойства. Другие материалы показывают удивительные оптические свойства, например, сверхтонкие плёнки органических материалов применяют для производства солнечных батарей. Аппаратура для исследования наноразмерных объектов разрабатывается весьма быстрыми темпами, также как как и математическое моделирование и конструирование на базе математических и программных моделей новых устройств. Доклад посвящен обзору современного технологического метрологического оборудования и программного обеспечения, создаваемых ведущими фирмами, такими как Scientific Computing International (SCI), J.A. Woollam, Filmetrics и др.